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Scanning Electron Microscope Calibration Using a Multi-Image Non-Linear Minimization Process

机译：使用多图像非线性最小化过程的扫描电子显微镜校准

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机译：国际观众

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Cui, Le; Marchand, Eric;
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年度 2015
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1. Scanning Electron Microscope Calibration Using a Multi-Image Non-Linear Minimization Process [J] . Cui Le, Marchand Eric International Journal of Optomechatronics . 2015,第1a2期

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2. Dark-field imaging based on post-processed electron backscatter diffraction patterns of bulk crystalline materials in a scanning electron microscope [J] . Brodusch Nicolas, Demers Hendrix, Gauvin Raynald Ultramicroscopy . 2015,第Null期

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